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光譜分析儀產(chǎn)品簡介
日期：2024-09-18 01:14
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摘要：
光譜分析儀是一種衍生光柵型光譜分析儀，用于分析 600 至 1750 nm波段范圍內(nèi)的光譜。具有自動測量、峰值自動搜索、譜寬計算、標(biāo)記到標(biāo)記間光譜測量、SMSR的分析、曲線擬合、OBPF的測試、包絡(luò)分析、n-dB衰耗、譜功率、WDM波長電平信噪比、光放大器增益、噪聲系數(shù)、無源器件測試和各種光源分析等。
光譜分析儀廣泛應(yīng)用于顏色測量，吸收率測量，發(fā)光測量，LED測量、薄膜厚度測量、鍍膜過程監(jiān)控、拉曼光譜測量、金屬成分分析(LIBS)、熒光測量等。AvaSpec光譜分析儀系統(tǒng)擁有多種平臺，包括不同的電子系統(tǒng)、光學(xué)平臺和探測器。 光譜分析儀平臺是針對各種領(lǐng)域的應(yīng)用而設(shè)計的，它得設(shè)計理念是基于功能強大的微處理器系統(tǒng)，具有獨立工作的能力，多通道型光譜分析儀可以實現(xiàn)通道間同步讀出，擁有I/O數(shù)字控制信號和USB及RS232接口使得光譜分析儀可以在有/無計算機環(huán)境下輕松使用。
光譜分析儀主要特點
寬的波長范圍:600-1750nm，覆蓋單模、多模所有波段
高的波長精度和重復(fù)性，測試準(zhǔn)確, 1530-1570nm波段的波長精度可達到+/-50pm
70dB的動態(tài)范圍距離峰值波長1nm的動態(tài)范圍為70dB
高靈敏度：-90dBm
支持DWDM信道的波長、功率和信噪比的測試
光譜分析儀廣泛應(yīng)用于顏色測量，吸收率測量，發(fā)光測量，LED測量、薄膜厚度測量、鍍膜過程監(jiān)控、拉曼光譜測量、金屬成分分析(LIBS)、熒光測量等。AvaSpec光譜分析儀系統(tǒng)擁有多種平臺，包括不同的電子系統(tǒng)、光學(xué)平臺和探測器。 光譜分析儀平臺是針對各種領(lǐng)域的應(yīng)用而設(shè)計的，它得設(shè)計理念是基于功能強大的微處理器系統(tǒng)，具有獨立工作的能力，多通道型光譜分析儀可以實現(xiàn)通道間同步讀出，擁有I/O數(shù)字控制信號和USB及RS232接口使得光譜分析儀可以在有/無計算機環(huán)境下輕松使用。
光譜分析儀主要特點
寬的波長范圍:600-1750nm，覆蓋單模、多模所有波段
高的波長精度和重復(fù)性，測試準(zhǔn)確, 1530-1570nm波段的波長精度可達到+/-50pm
70dB的動態(tài)范圍距離峰值波長1nm的動態(tài)范圍為70dB
高靈敏度：-90dBm
支持DWDM信道的波長、功率和信噪比的測試
